Радиационная стойкость микропроцессора семейства МЦСТ-4R

Структура комплекса для лазерных имитационных испытаний

В ходе выполнения ОКР по разработке микропроцессоров семейства «МЦСТ-R» проводилась оценка их радиационной стойкости. Радиационные испытания проводились в 2003 – 2007 гг. в ОАО «ЭНПО СПЭЛС». Целями испытаний были определение соответствия микропроцессоров требованиям ТЗ на ОКР и оценка характера изменения параметров микропроцессоров при различных видах радиационных воздействий.

Подробнее... Загрузить файл

Содержание:

Введение
1. Объекты исследований
2. Методика радиационных испытаний
3. Методика контроля работоспособности микропроцессоров при испытаниях
4. Результаты испытаний микропроцессоров на стойкость к воздействию импульсного ИИ
5. Результаты испытаний микропроцессоров на стойкость к накопленной дозе
6. Анализ результатов и рекомендации по применению микропроцессоров

<div style="background-color:#fff; -webkit-box-shadow:1px 1px 2px 1px #dddddd; box-shadow:1px 1px 2px 1px #dddddd; padding:10px; font:12px/20px verdana, sans-serif"><img src="/files/51bf0f/436487/1a7367/000000/previews/150/struktura-kompleksa-dlya-lazernyh-imitatsionnyh-ispytaniy.jpg" width="100" alt="Радиационная стойкость микропроцессора семейства МЦСТ-4R" style="padding:1px; display:block; float:left; border:1px solid #ccc; background:#fff; margin:0 10px 0 0"><a href="http://old.mcst.ru/radiacionnaya-stojkost-mikroprocessora-semejstva-mcst4r" style="font-size:12px">Радиационная стойкость микропроцессора семейства МЦСТ-4R</a><br>
<p style="text-align: justify;">В статье приведены результаты экспериментальных исследований радиационной стойкости микропроцессоров семейства «МЦСТ-R». Представлена методика радиационных испытаний, определены уровни стойкости и характеристики радиационных отказов. Даны рекомендации по применению микропроцессоров в условиях воздействия ионизирующих излучений. <span>(Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, Выпуск 3, 2010)</span></p><div style="clear:both; color:#304572; font:bold 11px arial; text-transform:uppercase; text-align:right">old.mcst.ru</div></div>

Радиационная стойкость микропроцессора семейства МЦСТ-4R

В статье приведены результаты экспериментальных исследований радиационной стойкости микропроцессоров семейства «МЦСТ-R». Представлена методика радиационных испытаний, определены уровни стойкости и характеристики радиационных отказов. Даны рекомендации по применению микропроцессоров в условиях воздействия ионизирующих излучений. (Вопросы радиоэлектроники, серия ЭВТ, Выпуск 3, 2010)

old.mcst.ru