Тестовые структуры микропроцессоров и их применение в проектах ЗАО “МЦСТ”

На семинаре присутствовал 31 специалист.

В докладе Л.С. Тимина были рассмотрены механизмы тестирования периферийных элементов, внутренней логики и памяти микропроцессоров, позволяющие существенно упростить процесс проверки корректности работы микросхем и печатных плат. Описаны общие принципы тестирования микропроцессоров, устройство, формирование, назначение и работа отдельных механизмов. При обсуждении опыта их применения в проектах ЗАО "МЦСТ" особое внимание уделялось выявленным проблемам и способам их решения. Рассматривались механизмы тестирования, специфичные для систем на кристалле, которые состоят из значительного числа различных по функциональности ядер, работающих на высокой частоте.